簡述X熒光鍍層測(cè)厚儀的基本使用步驟
2025-04-08
X熒光鍍層測(cè)厚儀支持多元素同步分析，適用于金、銀、鎳、鉻等金屬鍍層及多層復(fù)合結(jié)構(gòu)，廣泛運(yùn)用于電子、汽車、航空航天等行業(yè)的質(zhì)量控制。其優(yōu)勢(shì)在于非接觸式測(cè)量避免樣品損傷，便攜式設(shè)計(jì)與數(shù)字化校準(zhǔn)功能提升檢測(cè)效率，符合ASTM、ISO等國際標(biāo)準(zhǔn)，為工業(yè)鍍層工藝優(yōu)化與失效分析提供精準(zhǔn)數(shù)據(jù)支...
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不知道了吧！熒光鍍層測(cè)厚儀有五種測(cè)量原理可選
熒光鍍層測(cè)厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強(qiáng)度來。測(cè)量鍍層等金屬薄膜的厚度，因?yàn)闆]有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會(huì)對(duì)樣品造成損壞。同時(shí)，測(cè)量可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。今天小編要與大家分享的是熒光鍍層測(cè)厚儀的五種測(cè)量原理：1、磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼\鐵\銀\鎳。此種方法測(cè)量精度高。2、超聲波測(cè)厚法：目前國內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的，國外個(gè)別廠家有這樣的儀器，適用多...
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使用熒光鍍層測(cè)厚儀時(shí)所應(yīng)該遵守的規(guī)定分享
在當(dāng)今社會(huì)，要實(shí)現(xiàn)對(duì)材料的保護(hù)或裝飾作用，在化工，電子，電力，金屬，家具等行業(yè)中通常采用噴涂油漆，有色金屬，陽極氧化膜，電鍍層等，若需要檢測(cè)該物體表面的覆蓋層厚度，即需要應(yīng)用到熒光鍍層測(cè)厚儀了。熒光鍍層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)在空中按開機(jī)鍵開機(jī)，然后聽到“bi”的一聲，漆膜測(cè)厚儀進(jìn)入測(cè)量狀態(tài)，每次開機(jī)默認(rèn)單次測(cè)量狀態(tài)；將探頭輕壓到有涂層的金屬基底上，測(cè)厚儀發(fā)出bibi兩聲，顯示被測(cè)涂層厚度值n；按MODE鍵，可選擇測(cè)量方式，有單次測(cè)量、連續(xù)測(cè)量、差值測(cè)量三種測(cè)量方式可供選擇；按UNIT鍵...
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簡述XRF熒光光譜合金分析儀的常見故障原因及解決方法
XRF熒光光譜合金分析儀是根據(jù)X射線熒光光譜分析方法配置的儀器，由激發(fā)源（X射線管）和探測(cè)系統(tǒng)構(gòu)成。能夠分析固體或粉狀樣品中各種元素的成分含量，具有靈敏度高、精密度好、性能穩(wěn)定、分析速度快等特點(diǎn)，是一種中型、經(jīng)濟(jì)、高性能儀器。由產(chǎn)生熒光的原理可知，熒光從產(chǎn)生到*消失，它有一個(gè)時(shí)間過程（即從高能級(jí)的非穩(wěn)態(tài)躍遷到低能級(jí)的亞穩(wěn)態(tài)或穩(wěn)態(tài)的時(shí)間）。不同的物質(zhì)，這個(gè)時(shí)間的長短是不一樣的，它們從幾微秒到幾分鐘不等。我們可以給探測(cè)器的快門一個(gè)延遲時(shí)間，讓激發(fā)光*消失后開始對(duì)熒光采樣。在一些特...
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簡述XRF熒光光譜合金分析儀常用的三種測(cè)量方法
XRF熒光光譜合金分析儀是用于銅合金及其合金材料中硅、銅、鐵、鎂、鈦、錳、鉻、鎳、鋅、銅、錫、鉛等元素分析的三通道光電分析儀。這一儀器在技術(shù)基礎(chǔ)上，采用了“智能動(dòng)態(tài)跟蹤”和“標(biāo)準(zhǔn)曲線的非線性回歸”等*技術(shù)，使傳統(tǒng)的儀的日常調(diào)整和標(biāo)樣曲線的建立方法起了根本性的變化，現(xiàn)已大量地應(yīng)用在冶金、機(jī)械、化工等三班倒連續(xù)作業(yè)以及雜技上對(duì)固定的場(chǎng)合，如爐前、成品來料化驗(yàn)等。該儀器要求具有高的分辨率和信噪比、更好的強(qiáng)度準(zhǔn)確性和波長準(zhǔn)確性以及強(qiáng)的抗外界干擾性和優(yōu)良的儀器穩(wěn)定性，在儀器的軟件上，要...
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鍍層測(cè)厚儀EDX8000T plus全新發(fā)布
鍍層測(cè)厚儀EDX8000Tplus全新發(fā)布經(jīng)過多年研發(fā)，英飛思科學(xué)儀器全新推出X射線熒光光譜鍍層測(cè)厚儀。主要優(yōu)點(diǎn)：微光斑垂直光路，專為鍍層厚度分析而設(shè)計(jì)高計(jì)數(shù)率硅漂移檢測(cè)器(SDD)可實(shí)現(xiàn)快速，無損，高精度測(cè)量高分辨率樣品觀測(cè)系統(tǒng)，精確的點(diǎn)位測(cè)量功能有助于提高測(cè)量精度全系列標(biāo)配薄膜FP無標(biāo)樣分析法軟件，可同時(shí)對(duì)多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進(jìn)行測(cè)量背景介紹材料的鍍層厚度是一個(gè)重要的生產(chǎn)工藝參數(shù)，其選用的材質(zhì)和鍍層厚度直接影響了零件或產(chǎn)品的耐腐蝕性、裝飾效果、導(dǎo)電性、產(chǎn)品的可靠性...
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立訊精密采購三臺(tái)英飛思X熒光光譜儀設(shè)備用于鍍層分析和RoHS檢測(cè)
8月下旬，立訊精密相關(guān)負(fù)責(zé)人，技術(shù)人員來我司考察儀器，送樣品檢測(cè)。我司技術(shù)人員詳細(xì)介紹了儀器的參數(shù)，應(yīng)用，解釋了客戶針對(duì)性的各種問題?？蛻籼峁┑膸追N樣品檢測(cè)分析后，我司儀器給出的各項(xiàng)數(shù)據(jù)指標(biāo)都準(zhǔn)確合格。立訊精密在和其他廠家對(duì)比儀器各項(xiàng)性能指標(biāo)價(jià)格后，于9月初選擇英飛思的能量色散X熒光光譜儀--鍍層分析儀和RoHS檢測(cè)儀，用于產(chǎn)品的鍍層，鍍液檢測(cè)分析，RoHS檢測(cè)分析，為產(chǎn)品質(zhì)量牢牢把關(guān)。英飛思鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀微光斑X射線聚焦光學(xué)器件通過將高亮度一次X射線照射到0.02mm的...
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X熒光光譜礦石分析儀的各個(gè)組成系統(tǒng)作用介紹
X熒光光譜礦石分析儀是根據(jù)物質(zhì)基態(tài)原子蒸汽對(duì)特征輻射吸收的作用來進(jìn)行金屬元素分析的，它能夠靈敏可靠地測(cè)定微量或痕量元素。一般由四大部分組成，即進(jìn)樣系統(tǒng)、反應(yīng)系統(tǒng)、原子化系統(tǒng)和傳輸系統(tǒng)。今天咱們來了解下X熒光光譜礦石分析儀的各個(gè)組成系統(tǒng)：1、進(jìn)樣系統(tǒng)該儀器采用連續(xù)流動(dòng)進(jìn)樣，與傳統(tǒng)的樣品、載流交替進(jìn)入的斷續(xù)進(jìn)樣系統(tǒng)相比，連續(xù)流動(dòng)進(jìn)樣技術(shù)既克服傳統(tǒng)進(jìn)樣方式下蠕動(dòng)泵老化進(jìn)樣量不準(zhǔn)的問題，又避免使用易腐蝕漏液、價(jià)格昂貴的注射泵。同時(shí)，連續(xù)流動(dòng)進(jìn)樣技術(shù)大大提高了檢測(cè)速度，將測(cè)試一個(gè)樣品三...
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